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二氟化氙在微機(jī)電系統(tǒng)芯片上的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)


二氟化氙在微機(jī)電系統(tǒng)芯片上的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)


標(biāo)準(zhǔn)氣體(1)626400

氟化氙(XeF2)可用于Si、Mo和Ge的各向同性蝕刻,是蝕刻犧牲層來“釋放”MEMS(MEMS是微機(jī)電系統(tǒng)的縮寫,中文名為Micro Electro-Mechanical System。MEMS芯片,簡而言之,利用半導(dǎo)體技術(shù)在硅片上制造電子機(jī)械系統(tǒng),或者更形象地說,創(chuàng)造微米級(jí)和納米級(jí)的機(jī)械系統(tǒng),可以將外部物理和化學(xué)信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。)設(shè)備中移動(dòng)組件的理想解決方案。與濕法和SF等離子體蝕刻選項(xiàng)相比,它提供了許多獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)。
由于XeF2是干氣相蝕刻,因此在通過小孔或狹窄空間進(jìn)行蝕刻時(shí)不存在與表面張力或氣泡有關(guān)的問題。XeF2已經(jīng)被用于蝕刻直徑小至25nm的通孔。類似地,XeF2避免了通常與濕法蝕刻工藝相關(guān)的粘附問題,濕法蝕刻工藝在釋放/干燥后可能導(dǎo)致永久性單元損壞。
隨著MEMS變得越來越復(fù)雜,它們包含由不同或非標(biāo)準(zhǔn)材料制成的組件。沒有其他各向同性蝕刻對(duì)這么多材料具有選擇性。設(shè)備可以使用二氧化硅、氮化硅、聚合物以及大多數(shù)金屬和電介質(zhì)產(chǎn)品的任何組合來制造。
由于其選擇性和優(yōu)異的覆蓋率,XeF2可用于制作非常長的底切,蝕刻停止層、掩模或單位層幾乎沒有退化。例如,二氧化硅是一種非常流行的掩模材料,其硅:氧化物選擇性>1000:1。二氧化硅掩模已被用于實(shí)現(xiàn)超長缺陷(遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過100μm),并保護(hù)極小或薄的單元(尺寸小于30 nm)。
XeF2對(duì)不同材料的高選擇性允許設(shè)計(jì)者容易地添加蝕刻停止或使用現(xiàn)有的掩埋結(jié)構(gòu)作為底部切割的蝕刻停止。由于在蝕刻過程中對(duì)停止或釋放的設(shè)備幾乎沒有影響,因此可以在不損壞的情況下進(jìn)行過蝕刻。這意味著,由于設(shè)備不間斷和過度腐蝕造成的生產(chǎn)損失可以降至零。
低成本的光致抗蝕劑可以用作延長蝕刻的經(jīng)濟(jì)有效的掩模,因?yàn)閄eF2對(duì)聚合物的粘附性最小。類似地,XeF2不會(huì)腐蝕聚合物鈍化層,聚合物鈍化層保留在使用深反應(yīng)離子蝕刻(DRIE)形成的孔或凹槽的側(cè)壁上。此功能可用于在硅片的垂直凹槽或孔的底部創(chuàng)建管或圓孔。
XeF2不會(huì)腐蝕大多數(shù)通常用于封裝或晶片切割的材料。因此,XeF2可以通過將MEMS器件的釋放延遲到切割或封裝插入和導(dǎo)線綁定之后來增加產(chǎn)量。XeF2已成功用于在切割框架上的切割晶片和封裝中的芯片上釋放MEMS器件。

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